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ブレイクスルーを起こす先端製品のご提案半導体・MEMS プロセス装置

マスクレス描画装置

高解像度 / 高スループット            マスクレス露光装置

レイス

Picomaster / Picomaster XF シリーズ

業界最高レベルの解像度/スループット

Raith社は、ナノファブリケーション分野において高度な技術を提供する企業として、FIB-SEMやマスクレスEB直接描画装置を含む先端的なツールの開発・設計で知られています。同社は特に微細パターン形成やナノスケール構造作成に適した製品ラインナップを持っており、幅広い研究機関や産業界で利用されています。 2021年には、マスクレスレーザー直接描画装置を開発および製造していた4PICO社を買収することで、製品ポートフォリオをさらに拡充しました。 Raith社のツールは、さまざまな基板へのパターニングだけでなく、3次元構造化にも対応しており、世界中で1200台以上の納品実績を誇ります。

SERIES LINEUP

シリーズラインナップ

製品特徴

①業界ハイレベルの高解像度 / グレイスケール

PICOMASTER シリーズはマスクレスレーザ描画装置市場において、ハイレベルの高解像度、グレイスケールを誇ります。最小解像度は300nm (Min feature size:200nm)ですが、オプション対応で他の解像度(600nm / 900nm)の追加(自動的にサイズ切り替え)可能でして、お客様の設計・開発業務の柔軟性の向上が見込まれます。

◆主な仕様 PICOMASTER 200

・Feature size :200nm
・Min Line width:300nm
・Gray Scale  :4096
・Substrate size :Max 230 x 230 mm2
・Light source :Gan Laser 405nm

*上記仕様は、□200mmの露光用のツールとなっております。
□100、□150用のモデル、またオプション光源として375nmもございます。

 

 

②高スループット

PICOMASTER XFシリーズは、GLVを用いたマルチビーム方式によって、高解像度で高スループットを実現いたします。
基板サイズはMax □1,400mm(モデルによる)まで可能となっており、太陽光等の大型パネルサイズへの描画もできます。

◆主な仕様 PICOMASTER XF 200
・Feature size  :500nm
・Min Line width :600nm
・Gray Scale   :256
・Substrate size :Max 250 x 250 mm2
・Light source  :Gan Laser 405nm
・Max write speed:560mm2/min

*上記仕様は、□200mmの露光用のツールとなっております。
他のサンプルサイズの仕様はお問い合わせください。

          

③エントリーモデル PICOMASTER Start 100

Raith社では高解像度モデルシリーズ、高スループットモデルシリーズの他にお手頃価格価格のレーザ直接描画装置もラインナップにございます。
他のシリーズではスキャニング時にCDAが必要ですが、本エントリーモデルは不要の為、ユーティリティは電源のみとなっております。加えて、卓上モデルになりますので、小スペースへの設置も可能となります。

◆主な仕様 PICOMASTER Start 100
・Min Line width :800nm
・Gray scale :4096:
・Substrate size :Max 125 x 125 mm2
・Light source  :Gan Laser 405nm

*オプションで1,500nm及び2,500umの解像度自動切換え機能、375nm光源の取替えも可能でございます。

 

 

 

APPLICATION

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